بر اساس گزارش رسانه های خارجی، تولیدکننده آشکارساز نور ژاپنی Hamamatsu Photonics یک سیستم بازرسی پرسرعت را توسعه داده است که می تواند به سرعت کیفیت تراشه های میکرو ال ای دی را بر روی یک ویفر بازرسی کند.
گزارش شده است که سیستم تشخیص MiNY PL نامیده می شود. از فناوری آزمایش فتولومینسانس (PL) برای تشخیص ناهنجاری ها در ظاهر، شدت نورانی و طول موج تراشه های LED استفاده می کند. فناوری آزمایش فتوالومینسانس مورد استفاده بر اساس فناوری پردازش تصویر هاماتسو فتون و ماژول جدید تصویربرداری توسعه یافته است.
Hamamatsu Photonics اظهار داشت که سیستم MiNY PL می تواند به سرعت تعیین کند که آیا تراشه در هنگام آزمایش تراشه های Micro LED واجد شرایط است یا نه، که برای بهبود عملکرد محصولات Micro LED برای نمایش و کارایی Micro LED R&D مساعد است.
علاوه بر این، سیستم MiNY PL 100٪ از فرایند بازرسی بر روی خط تولید انبوه Micro LED را در آینده ساده خواهد کرد.
اتفاقا ً اخیراً اخباری وجود داشت که اپل در حال توسعه یک سیستم بازرسی Micro LED است و پتنت های مرتبطی را به دست آورده است.
سیستم اپل قبل از انتقال به صفحه نمایش، کیفیت تراشه Micro LED را شناسایی و به دقت مکان یابی می کند. هدف نیز کاهش نرخ نقص و از دست دادن فرایند تولید، در نتیجه بهبود قابلیت اطمینان از صفحه نمایش و اطمینان از کیفیت محصول است.
اندازه میکرو LED کوچک می شود، تعداد تراشه های مورد استفاده و حجم کار فرایند پیوند انتقال تا حد زیادی افزایش یافته است. اگر نرخ نقص تراشه بیش از حد بالا باشد، عملکرد تولید فرایندهای بعدی را کاهش می دهد، حجم کار مجدد و هزینه کلی را افزایش می دهد. بنابراین، کنترل عملکرد تولید از فرایند جلو مانند تشخیص کیفیت تراشه به ویژه حیاتی است، اما این نیز یکی از مشکلات در صنعت میکرو ال ای د است.
برای این کار، بسیاری از تولیدکنندگان تجهیزات تلاش های تحقیق و توسعه خود را بر روی تجهیزات تست Micro LED افزایش داده اند، و پیشرفت فعلی ناهموار است. صرف نظر از جزئیات خاص، اخبار مربوطه در حال حاضر نشان می دهد که دستیابی به موفقیت در لینک بازرسی کیفیت تراشه وجود دارد، که خبر خوبی برای صنعت میکرو LED است.